Gegenstand der Ausschreibung ist ein Röntgensystem, dass zur Charakterisierung der Strahlentoleranz integrierter Schaltkreise bei hohen Dosisraten eingesetzt werden soll. Die zu untersuchenden Mikrochips werden hauptsächlich aus eigener Entwicklung stammen und in moderneren Halbleitertechnologien gefertigt sein. In erster Linie wird der Einsatz der Chips in Teilchenphysikexperimenten am Large Hadron Collider des Forschungszentrums CERN oder anderen strahlexponierten Umgebungen wie z.B. dem Weltraum vorgesehen sein. Vereinzelt sollen auch kommerziell erhältliche sogenannte Commercial Off-The-Shelf (COTS) Bauteile auf Ihre Strahlenfestigkeit hin untersucht werden.

Quelle: evergabe.nrw.de